Name: Probe uji IC frekuensi tinggi dual-head YF DE1-051DF57-01C0
Brand: SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD.
Price: 999 USD
Availability: InStock

Rumah > Produk > Probe pengujian musim semi >

Probe uji IC frekuensi tinggi dual-head YF DE1-051DF57-01C0

Probe uji IC dual-head

Sonde uji pegas frekuensi tinggi

Sonde uji YF DE1

Tempat asal:

Cina

Nama merek:

WINNER

Sertifikasi:

ISO9100

Hubungi Kami

Minta Kutipan

Probe uji IC frekuensi tinggi dual-head YF DE1-051DF57-01C0

Rincian produk

Nama Produk:

probe uji pegas

barel:

PB, Palpal Emas

Plunger Bawah:

BeCu/SK4, berlapis emas

Pendorong ATAS:

SK4(Menjadi Cu)/Berlapis Emas

MUSIM SEMI:

SWPB(SUS)/Berlapis Emas

Tersedianya:

Ukuran khusus tersedia

Lapisan:

Berlapis emas

Peringkat Saat Ini:

Hubungi Resistensi:

maks 100 mohm

Bandwidth:

-0,85dB @ 19,6GHz

induktansi:

1,27nH

Kapten:

1,62pF

Stroke penuh:

1.0mm

Stroke berperingkat:

0,65mm

Angkatan Musim Semi:

25gram@0.65mm

Kehidupan Mekanik Melebihi:

200k

Menyoroti:

Probe uji IC dual-head

Sonde uji pegas frekuensi tinggi

Sonde uji YF DE1

Syarat Pembayaran & Pengiriman

Kuantitas min Order

3000pcs

Harga

999

Kemasan rincian

Pengepakan netrial atau dengan logo OEM

Waktu pengiriman

5-8 hari kerja

Syarat-syarat pembayaran

L/C, Western Union, T/T

Menyediakan kemampuan

100000 gulungan per bulan

Produk terkait

Pin Berujung Ganda dengan Pegas untuk Peralatan Uji Otomatis (ATE)

Dapatkan Harga Terbaik

Probe Pin Pogo Presisi Ujung Ganda untuk Pengujian Elektronik

Dapatkan Harga Terbaik

Probe Uji Pegas Pogo Pin Dua Ujung Presisi Tinggi untuk ICT & FCT

Dapatkan Harga Terbaik

China Supplier Double Ended Pogo Pin Spring Loaded Probe untuk Pengujian PCB

Dapatkan Harga Terbaik

Hubungi Kami

Hubungi Sekarang

Deskripsi Produk

Probe uji pin kontak switch berkualitas tinggi YF DE1-051DF57-01C0

Pin pengujian semikonduktor dengan beban pegas presisi yang dirancang untuk kinerja yang dapat diandalkan dalam aplikasi pengujian yang menuntut, dengan kemampuan pengujian BGA efisiensi tinggi.

Fitur Produk Utama

Plating Emas Konduktivitas Tinggi:Plunger berlapis emas dan tong memastikan perlawanan kontak rendah dan transmisi sinyal yang stabil
Beberapa gaya tip:Tersedia di ujung B (60 ° kerucut), U ujung, ujung D, dan geometri sepenuhnya disesuaikan
Struktur pegas yang tahan lama:Pemanas baja tahan karat (bahan SUS) memberikan stroke kerja yang stabil dan kekuatan kontak yang dapat diandalkan
Manufaktur khusus:OEM / ODM diterima dengan pengiriman cepat dari pabrik kami

Gambar Produk

Ilustrasi Komponen Rincian

Perbandingan tip dan konfigurasi ujung probe uji yang berbeda

Opsi kustomisasi

SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD. menawarkan kustomisasi komprehensif untuk barel kuningan kami stainless steel spring test probe:

Diameter khusus untuk memenuhi kebutuhan spesifik Anda
Ketebalan plating khusus untuk konduktivitas dan daya tahan yang optimal
Spesifikasi mekanik khusus yang disesuaikan dengan aplikasi Anda

Semua produk termasuk dokumentasi pelacakan bahan dan sertifikat analisis untuk jaminan kualitas. Hubungi kami untuk meminta sampel atau penawaran untuk persyaratan aplikasi spesifik Anda.

Proses Produksi

Fasilitas manufaktur probe kami

Pemeriksaan kontrol kualitas

Probe dibungkus siap untuk pengiriman

Tag：

Probe uji IC frekuensi tinggi dual-head YF DE1-051DF57-01C0

Probe uji IC dual-head

Sonde uji pegas frekuensi tinggi

Sonde uji YF DE1

Probe uji IC dual-head

Sonde uji pegas frekuensi tinggi

Sonde uji YF DE1

Pin Berujung Ganda dengan Pegas untuk Peralatan Uji Otomatis (ATE)

Probe Pin Pogo Presisi Ujung Ganda untuk Pengujian Elektronik

Probe Uji Pegas Pogo Pin Dua Ujung Presisi Tinggi untuk ICT & FCT

China Supplier Double Ended Pogo Pin Spring Loaded Probe untuk Pengujian PCB

Elektronika dengan kawat tungsten dilapisi emas

0.01mm tungsten kawat R & D

Elektronika dengan kawat molibdenum dilapisi emas